ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Advances in X-Ray Analysis: Volume 30

دانلود کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل اشعه ایکس: جلد 30

Advances in X-Ray Analysis: Volume 30

مشخصات کتاب

Advances in X-Ray Analysis: Volume 30

ویرایش:  
نویسندگان: , , , , , ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781461290759, 9781461319351 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 1987 
تعداد صفحات: 591 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 31 Mb 

قیمت کتاب (تومان) : 54,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 1


در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in X-Ray Analysis: Volume 30 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل اشعه ایکس: جلد 30 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب پیشرفت در تجزیه و تحلیل اشعه ایکس: جلد 30

سی و پنجمین کنفرانس سالانه دنور در مورد کاربردهای آنالیز اشعه ایکس در 4 تا 8 اوت 1986 در محوطه دانشگاه دنور برگزار شد. از آنجایی که کنفرانس سال قبل بر پراش اشعه ایکس تأکید داشت، امسال جلسه عمومی بر فلورسانس اشعه ایکس با عنوان «روندهای XRF: چشم‌انداز جهانی» که سخنرانان مشهوری از سه حوزه اصلی را به نمایش می‌گذارد، پرداخت. XRF در آمریکای شمالی، توسط پروفسور D. E. Leydon، از دانشگاه ایالتی کلرادو، به طور خاص به پیشرفت‌ها در زمینه‌های ابزار دقیق، پردازش داده‌ها و کاربردها در آن بخش از جهان می‌پردازد. پروفسور H. Ebel، از دانشگاه فنی وین، XRF در اروپا را با تمرکز بر موضوعاتی از جمله بازتاب کامل، پارامترهای بنیادی بهبود یافته، کمی سازی بدون استانداردها و تکنیک های تصویربرداری مورد بحث قرار داد. تومویا آرای، از شرکت صنعتی ریگاکو در ژاپن، در بررسی XRF در شرق دور، فعالیت علمی در XRF و کاربردهای آن را در درجه اول در ژاپن و چین تشریح کرد. این سخنرانی‌های عمومی با بحث‌های کوتاهی در مورد مشاهدات شخصی در مورد این موضوع توسط روسای مشترک جلسه، ران جنکینز و من آمیخته شد. هدف از این جلسه این بود که مخاطبان را از وضعیت این رشته در نقاط مختلف جهان به روز کند و کمی احساس کند که احتمال دارد در آینده نزدیک به کجا برود. امید است که انتشار نسخه‌های مکتوب آن سخنرانی‌ها در این مجلد، افکار نویسندگان را در دسترس بسیاری از کسانی که نتوانستند در کنفرانس حضور داشته باشند، قرار دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The 35th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 4-8, 1986, on the campus of the University of Denver. Since the previous year's conference had emphasized x-ray diffraction, this year the Plenary Session spotlighted x-ray fluorescence, with the title "Trends in XRF: A World Perspective," featuring renowned speakers from three major areas. XRF IN NORTH AMERICA, by Prof. D. E. Leydon, from Colorado State University, dealt specifically with developments in the fields of instrumentation, data treatment and applications in that part of the world. Prof. H. Ebel, from the Technical University of Vienna, discussed XRF IN EUROPE, concentrating on subjects including total reflection, improved fundamental parameters, quantitation without standards and imaging techniques. Tomoya Arai, of the Rigaku Industrial Corporation in Japan, in considering XRF IN THE FAR EAST, described the scientific activity in XRF and the applications thereof, primarily in Japan and China. These plenary lectures were interspersed with short discussions of PERSONAL OBSERVATIONS on the subject by the co-chairmen of the SeSSion, Ron Jenkins and myself. The intent of this session was to bring the audience up-to-date on the status of the field in various parts of the world, and to give some feeling concerning where it is likely to go in the immediate future. Hopefully, the publication of the written versions of those presentations in this volume will make the authors' thoughts available to many who could not be present at the conference.



فهرست مطالب


Content:
Front Matter....Pages i-xviii
XRF In North America....Pages 1-5
X-Ray Fluorescence Analysis (XRF) in Europe....Pages 7-11
XRF in Japan and China....Pages 13-27
Personal Observations....Pages 29-33
Personal Observations on Trends in XRF....Pages 35-37
X-Ray Microfluorescence of Geologic Materials....Pages 39-44
Parameters Affecting X-Ray Microfluorescence (XRMF) Analysis....Pages 45-51
Imaging Techniques for X-Ray Fluorescence and X-Ray Diffraction....Pages 53-65
X-Ray Microanalysis for Alloy Design....Pages 67-75
High Spatial Resolution in X-Ray Fluorescence....Pages 77-83
Low Level Iodine Detection by TXRF in a Reactor Safety Simulation Experiment....Pages 85-88
Robotic Automation Applied to X-Ray Fluorescence Analysis....Pages 89-96
Advances in Fundamental-Parameter Methods for Quantitative XRFA....Pages 97-104
X-Ray Fluorescence Analysis of Geological Materials using Rousseau’s Fundamental Algorithm....Pages 105-112
Application of the Inverse Monte Carlo Method to Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence....Pages 113-120
Monte Carlo Simulation of the X-Ray Fluorescence Spectra from Multielement Homogeneous and Heterogeneous Samples....Pages 121-132
Quantitative Analysis of Odd-Shaped Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry using Intensity Ratios....Pages 133-141
Background Intensities and their Utilization in Quantitative Analysis by Monochromatically Excited Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence....Pages 143-151
Standardless EDXRF Analysis of Cations in Ion-Exchange Resin-Impregnated Membrances....Pages 153-163
Use of Scattered Secondary Target Radiation in EDXRF Analysis: A Fundamental-Parameter Method for Matrix Correction....Pages 165-174
Comparison of Dilution Strategies for Dealing with Unanalyzed Elements in X-Ray Fluorescence Analysis....Pages 175-182
The use of Layered Synthetic Microstructures for Quantitative Analysis of Elements: Boron to Magnesium....Pages 183-192
The Analysis of Carbon and Other Light Elements using Layered Synthetic Microstructures....Pages 193-200
Layered Synthetic Microstructure in Sequential and Simultaneous X-Ray Spectrometry....Pages 201-211
Measurement of Soft and Ultrasoft X-Rays with Total Reflection Monochromator....Pages 213-223
Comparison of Dual-Channel Wavelength and Secondary-Target Energy-Dispersive X-Ray Spectrometers....Pages 225-236
The Efficiency of the Recessed Source Geometry for EDXRF Analysis of Metal Impurities in Oils....Pages 237-241
X-Ray Fluorescence Analysis of Sulfur and Trace Elements in Coal and Oil Tar Pitches, Asphalts and Other Bituminous Compounds....Pages 243-249
A Comparison of Several Sample Preparation Techniques for the Analysis of Fly Ash....Pages 251-256
Advances in High-Resolution Studies of the Chemical Effects in the Molybdenum L Heavy-Ion-Induced X-Ray Satellite Emission (HIXSE) Spectra....Pages 257-264
Energy Dispersive Analysis for Quality Assurance of Aluminum Alloys....Pages 265-272
Multielement Preconcentration of Rare Earth Elements for their Determination at ppm-Levels in Geological Samples....Pages 273-280
Wide Area Networking of XRF Generated Geochemical Data in a National Geological Survey....Pages 281-284
Energy-Dispersive X-Ray Techniques for Accurate Heavy Element Assay....Pages 285-292
Applications for X-Ray Fluorescence Scans of Single Strands of Hair: Actual and Potential....Pages 293-302
Application of EDXRF Analysis to Continuous Industrial Process Monitoring....Pages 303-307
X-Ray Fluorescence Determination of Trace Elements in Complicated Matrices....Pages 309-314
An X-Ray Fluorescent Spectrometer for the Measurement of Thin Layered Materials on Silicon Wafers....Pages 315-323
Automated Quantitative XRF Analysis of Soda-Lime Glass Utilizing Pattern Recognition....Pages 325-332
The use of Mass Absorption in Quantitative X-Ray Diffraction Analysis....Pages 333-342
Powder Diffraction Profiles and the Pearson VII Distribution....Pages 343-350
Observed and Calculated XRPD Intensities for Single Substance Specimens....Pages 351-356
Rapid Non-Destructive X-Ray Characterization of Solid Fuels/ Propellants....Pages 357-365
On-Stream X-Ray Diffraction Analyzer for Mineral Concentrators....Pages 367-372
Lattice Parameter Determination using Synchrotron Powder Data....Pages 373-382
Synchrotron Radiation Applied to Computer Indexing....Pages 383-388
Synchrotron X-Ray Scattering for the Structural Characterization of Catalysts....Pages 389-394
Thermal Expansion Behavior of Pure and Doped Cordierite by Time-of-Flight Neutron Diffraction....Pages 395-405
Instrumental Capabilities in X-Ray Diffraction Analysis: Comparative Techniques....Pages 407-412
A New High-Temperature Camera for Diffraction Studies Above 2200°C....Pages 413-420
Use of X-Ray Curved Sensitive Position Detector for Simultaneous Measurement of Several Pole Figures....Pages 421-427
A Quantitative Texture Analysis of Pluri-Crystals by Texture Goniometry....Pages 429-437
Computing X-Ray Powder Diffraction Intensities and Bragg Angles Using a Microcomputer....Pages 439-446
The Effects of Extinction on X-Ray Powder Diffraction Intensities....Pages 447-456
Analysis of Surface Layers and Thin Films by Low Incident Angle X-Ray Diffraction....Pages 457-464
X-Ray Diffraction Studies Under Non-Ambient Conditions: Application to Transition-Metal Dichalcogenide Solid Lubricants....Pages 465-471
High Temperature X-Ray Diffraction Study of Sol-Gel Derived Pb(ZrxTi1-x)03 Powders....Pages 473-481
In Situ Crystallization Measurements on Fe-Zr Glasses using an Automated High-Temperature Diffractometer with a Position Sensitive Detector....Pages 483-491
Use of The Dow-Developed DSC/XRD/MS in the Study of Several Model Copper-Based Catalyst Systems....Pages 493-502
Relationship between Thermal Expansion and Crystal Chemical Parameters in Diborides....Pages 503-510
Experimental Methods for Determination of Precision and Estimation of Accuracy in XRD Residual Stress Measurement....Pages 511-521
Design of a Real-Time Two-Dimensional Residual Stress Analyzer....Pages 523-526
High Resolution Digital X-Ray Rocking Curve Topography....Pages 527-535
X-Ray Diffraction Study of Fracture Surface Made by Fracture Toughness Tests of Blunt Notched CT Specimen of Aluminum Alloy....Pages 537-544
X-Ray Fractography of Fracture Surface of Alumina Ceramics....Pages 545-552
Dosimetry of X-Ray Beams: The Measure of the Problem....Pages 553-568
Some Examples of Failure in X-Ray Safety....Pages 569-573
Controlling Laboratory Conditions: Preventing the Problem, the Health Physicist’s Viewpoint....Pages 575-582
Analytical X-Ray Safety at Lawrence Livermore National Laboratory....Pages 583-594
Back Matter....Pages 595-602




نظرات کاربران