Advances in the Crystallographic and Microstructural Analysis of Charge Density Wave Modulated Crystals

کریستال های مدوله شده به شدت در چند سال گذشته مورد بررسی قرار گرفته اند و اکنون آشکار است که درک کریستالوگرافی و ریزساختار آنها برای روشن شدن خواص فیزیکی و انتقال فاز در این مواد اساسی است. این کتاب برای اولین بار توصیفات کریستالوگرافی و روش های تجربی برای تجزیه و تحلیل ساختاری و ریزساختاری بلورهای مدوله شده را که توسط محققان مشهور در زمینه های مختلف توصیف شده است، گرد هم می آورد. تاکید بر مدولاسیون موج چگالی بار است و تجزیه و تحلیل دقیق سیستم نمونه اولیه NbTe4/TaTe4 کاربردهای عملی روش ها را ارائه می دهد. میکروسکوپ تونل زنی اسکن یک تکنیک جدید است که بینش های جدید قابل توجهی را در مورد جزئیات مقیاس اتمی ساختار مدولاسیون ها ارائه می دهد و فصلی در مورد این روش گنجانده شده است.

Modulated crystals have been intensively investigated over the past several years and it is now evident that an understanding of their crystallography and microstructure is fundamental to the elucidation of the physical properties and phase transitions in these materials. This book brings together for the first time the crystallographic descriptions and experimental methods for the structural and microstructural analysis of modulated crystals as described by well-known researchers in the various areas. The emphasis is on charge density wave modulations, and the detailed analysis of the prototypical NbTe4/TaTe4 system gives practical applications of the methods. Scanning Tunnelling Microscopy is a new technique providing significant new insights into atomic scale details of the modulations' structures and a chapter on this method is included.