دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Peter W. Hawkes
سری: Advances in Imaging and Electron
ISBN (شابک) : 9780128048153
ناشر: Elsevier
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 148
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 13 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 193 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکترون، جلد 193 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
دو فصلی که این جلد را پر می کند، ابزارهایی را برای مطالعه
روشنایی پرتوهای الکترونی و برای تجزیه و تحلیل خواص طیف سنج های
جرمی توصیف می کند.
اول، L.D. دافی و A.J. Dragt مفهوم Eigen-Eititance را معرفی می
کند. سه متغیر سینماتیکی با پرتوهای ذره باردار در حالت انتقال
خطی مرتبط هستند. این متغیرها به عنوان انتشار ویژه شناخته می
شوند و مطالعه ویژگی های آنها این امکان را فراهم می کند که تیر
را متناسب با کاربرد مورد نظر تنظیم کنیم. این نظریه مبتنی بر
مفهوم حمل و نقل پرتوی نمادین است، موضوعی که A.J. Dragt قبلاً به
این پیشرفتها کمک کرده است (Advances in Electronics & Electron
Physics, 67, 1986, 65-120, with E. Forest). نویسندگان ابتدا
تئوری اساسی را خلاصه می کنند قبل از اینکه توضیح دهند که چگونه
گسیل می تواند در صورت لزوم تطبیق داده شود. باقیمانده فصل، که
رساله ای کوتاه در این زمینه را تشکیل می دهد، کاربردهای مختلفی
را ارائه می دهد.
در فصل دوم، آی. اسپیواک-لاوروف به طور مفصل روش های تجزیه و
تحلیل ویژگی های هر دو ایستا و زمان-زمان را شرح می دهد. -
طیفسنجهای جرمی پرواز و ابداع طرحهای جدید. اپتیک این ابزارها
در تلاش برای مستقل ساختن مقاله به تفصیل بیان شده است. بسیاری از
آثار روسی ذکر شده است، اغلب از مجلاتی که در ترجمه انگلیسی در
دسترس نیستند و در برخی موارد، به طور گسترده در خارج از کشورهای
مبدأ در دسترس نیستند.
The two chapters that fill this volume describe tooLs for
studying the brightness of electron beams and for analysing the
properties of mass spectrometers.
First, L.D. Duffy and A.J. Dragt introduce the concept of
eigen-emittance. Three kinematic invariants are associated with
charged-particle beams, in linear transport mode. These
invariants are known as eigen-emittances and a study of their
properties makes it possible to tailor the beam to fit the
application in question. The theory is based on the notion of
sym-plectic beam transport, a subject on which A.J. Dragt has
already contributed to these Advances (Advances in Electronics
& Electron Physics, 67, 1986, 65—120, with E. Forest). The
authors first recapitulate the basic theory before explaining
how the emittance can be adapted as required. The remainder of
the chapter, which form a short treatise on the subject,
presents various applications.
In the second chapter, I. Spivak-Lavrov describes at length
ways of analysing the properties of both static and
time-of-flight mass spectrometers and of devising new designs.
The optics of these instruments is set out in detail, in an
attempt to make the article self-contained. Much Russian work
is cited, often from journals that are not available in English
translation and in some cases, are not widely available outside
their countries of origin.