ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies (Frontiers in Electronic Testing)

دانلود کتاب پیشرفت در تست الکترونیکی: چالش ها و روش ها (مرزها در تست الکترونیکی)

Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies (Frontiers in Electronic Testing)

مشخصات کتاب

Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies (Frontiers in Electronic Testing)

دسته بندی: علوم (عمومی)
ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 0387294082, 9780387294094 
ناشر:  
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 431 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 9


در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies (Frontiers in Electronic Testing) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در تست الکترونیکی: چالش ها و روش ها (مرزها در تست الکترونیکی) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی



فهرست مطالب

Defect-Orinted Testing....Pages 1-42
Failure Mechanisms and Testing in Nanometer Technologies....Pages 43-75
Silicon Debug....Pages 77-108
Delay Testing....Pages 109-139
High-Speed Digital Test Interfaces....Pages 141-178
DFT_Oriented,Low-Cost Testers....Pages 179-216
Embedded Cores and System-on-Chip Testing....Pages 217-261
Embedded MemoryTesting....Pages 263-300
Mixed-Signal Testing and DfT....Pages 301-336
RF Testing....Pages 337-369
Loaded Board Testing....Pages 371-406




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی