دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Gabriel M. Crean, Colm M. Flannery, Séan Cian Ó Mathúna (auth.), Andrew Briggs (eds.) سری: Advances in Acoustic Microscopy 1 ISBN (شابک) : 9781461357629, 9781461518730 ناشر: Springer US سال نشر: 1995 تعداد صفحات: 374 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 10 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پیشرفت در میکروسکوپ آکوستیک: میکروسکوپ بیولوژیکی، فیزیک حالت جامد، طیف سنجی و میکروسکوپ، فیزیک ماده متراکم، کریستالوگرافی، خصوصیات و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in Acoustic Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در میکروسکوپ آکوستیک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
در سال 1992 میکروسکوپ آکوستیک توسط انتشارات دانشگاه آکسفورد، در مجموعه مونوگرافهای فیزیک و شیمی مواد منتشر شد. مرورها در مجله میکروسکوپی [169 (1)، 91] و در فیزیک معاصر [33 (4)، 296] ظاهر شدند. در زمان انتشار، به نظر میرسید که حوزه میکروسکوپ آکوستیک به دلیل پیشرفتهای شگفتانگیز در تفکیک پذیری که در اواخر دهه هفتاد و اوایل دهه هشتاد دیده شده بود و از پیشرفتهای نه چندان هیجانانگیز در اندازهگیریهای الاستیک کمی که تا به حال دیده شده بود، فروکش کرده است. دنبال کرد. یکی از منتقدان نوشت: "زمان برای چنین کتابی فرا رسیده است، اکنون که گسترش موضوع پس از انفجار آن توسط لیمونز و کوات به طور ادراکی کند شده است." [A. هاوی، پروک. RMS 27 (4)، 280]. از بسیاری جهات، این درست باقی می ماند. طراحی اولیه برای هر دو ابزار تصویربرداری و کمی به خوبی تثبیت شده است. فرکانس بالایی برای تصویربرداری معمولی 2 گیگاهرتز است که توسط میکروسکوپ آکوستیک روبشی ارنست لیتز (ELSAM) در سال 1984 ایجاد شد. برای دقیقترین اندازهگیریهای V(z)، لنز 225 مگاهرتز خط فوکوس پرتو، که در دانشگاه توهوکو ساخته شده است. کمی قبل از آن، استاندارد باقی می ماند. اصول تئوری تضاد با تجربه فراوان تأیید شده است. به ویژه نقش امواج صوتی سطحی، مانند امواج ریلی، بر کنتراست در اکثر مطالعات با وضوح بالا در بسیاری از مواد غالب است.
In 1992 Acoustic Microscopy was published by Oxford University Press, in the series of Monographs on the Physics and Chemistry of Materials. Reviews appeared in the Journal of Microscopy [169 (1), 91] and in Contemporary Physics [33 (4), 296]. At the time of going to press, it seemed that the field of acoustic microscopy had settled down from the wonderful developments in resolution that had been seen in the late seventies and the early eighties and from the no less exciting developments in quantitative elastic measurements that had followed. One reviewer wrote, "The time is ripe for such a book, now that the expansion of the subject has perceptively slowed after it was detonated by Lemons and Quate. " [A. Howie, Proc. RMS 27 (4), 280]. In many ways, this remains true. The basic design for both imaging and quantitative instruments is well-established; the upper frequency for routine imaging is the 2 GHz established by the Ernst Leitz scanning acoustic microscope (ELSAM) in 1984. For the most accurate V(z) measurements, the 225-MHz line-focus-beam lens, developed at Tohoku Univer sity a little before then, remains standard. The principles of the contrast theory have been confirmed by abundant experience; in particular the role of surface acoustic waves, such as Rayleigh waves, dominates the contrast in most high resolution studies of many materials.
Front Matter....Pages i-xxxi
Acoustic Microscopy Analysis of Microelectronic Interconnection and Packaging Technologies....Pages 1-48
Measuring Short Cracks by Time-Resolved Acoustic Microscopy....Pages 49-77
Probing Biological Cells and Tissues with Acoustic Microscopy....Pages 79-115
Lens Geometries for Quantitative Acoustic Microscopy....Pages 117-151
Measuring Thin-Film Elastic Constants by Line-Focus Acoustic Microscopy....Pages 153-208
Measuring the Elastic Properties of Stressed Materials by Quantitative Acoustic Microscopy....Pages 209-247
Surface Brillouin Scattering—Extending Surface Wave Measurements to 20 GHz....Pages 249-300
New Approaches in Acoustic Microscopy for Noncontact Measurement and Ultra High Resolution....Pages 301-342
Back Matter....Pages 343-350