دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
دانلود کتاب تست تولید پیشرفته دستگاه های RF، SoC و SiP
مشخصات کتاب
Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
ویرایش: 1
نویسندگان: Joe Kelly. Michael D. Engelhardt
سری:
ISBN (شابک) : 158053709X
ناشر:
سال نشر: 2006
تعداد صفحات: 326
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 2 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 52,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست تولید پیشرفته دستگاه های RF، SoC و SiP نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تست تولید پیشرفته دستگاه های RF، SoC و SiP
این اولین منبع در نوع خود با ارائه اطلاعات ارزشمند از شرکت های پیشرو در صنعت و متخصصان بسیار مورد توجه در این زمینه، به مهندسان با تجربه درک جامعی از موضوعات پیشرفته در RF، SiP (سیستم در بسته) و SoC ارائه می دهد. سیستم روی یک تراشه) آزمایش تولید که برای کار آنها در مورد دستگاه های نیمه هادی حیاتی است. این کتاب مفاهیم کلیدی اندازه گیری را برای آزمایش دستگاه نیمه هادی پوشش می دهد و به مهندسان در توضیح این مفاهیم به مدیریت کمک می کند تا به کاهش هزینه، زمان و منابع پروژه کمک کند. بر اساس تجربه دنیای واقعی و مملو از معادلات صرفه جویی در زمان، این حجم عمیق به متخصصان اطلاعات عملی در مورد موضوعات ضروری ارائه می دهد که قبلاً هرگز در یک مرجع ارائه نشده است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Featuring invaluable input from industry-leading companies and highly-regarded experts in the field, this first-of-its kind resource offers experienced engineers a comprehensive understanding of the advanced topics in RF, SiP (system-in-package), and SoC (system-on-a-chip) production testing that are critical to their work involving semiconductor devices. The book covers key measurement concepts for semiconductor device testing and assists engineers in explaining these concepts to management to aid in the reduction of project cost, time, and resources. Based on real-world experience and packed with time-saving equations, this in-depth volume offers professionals practical information on essential topics that have never been presented in a single reference before.
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Theorie Geometrique des Polynomes Euleriens
