دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Wenjian Yu. Xiren Wang (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783642542978, 9787302351511
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر: 2014
تعداد صفحات: 258
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تکنیک های پیشرفته درست حل برای استخراج RC مدارهای مجتمع: مدارها و سیستم ها، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی، علوم و مهندسی محاسبات، تجزیه و تحلیل عددی، شبیه سازی و مدل سازی
در صورت تبدیل فایل کتاب Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تکنیک های پیشرفته درست حل برای استخراج RC مدارهای مجتمع نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
استخراج مقاومت و خازن (RC) یک مرحله ضروری در مدلسازی سیمهای اتصال و اثر جفت شدن بستر در مدارهای مجتمع فناوری نانومتری (IC) است. تکنیکهای حلکننده میدان برای استخراج RC دقت مدلسازی را تضمین میکنند و در برآوردن تقاضا برای مدلسازی دقیق و شبیهسازی طرحهای VLSI اهمیت فزایندهای پیدا میکنند. تکنیکهای حلکننده میدان پیشرفته برای استخراج مدارهای مجتمع RC معرفی سیستماتیک و درمان روشهای حلکننده میدان کلیدی برای استخراج RC اتصالات VLSI و کوپلینگ بستر در آیسیهای سیگنال مختلط را ارائه میدهد. تکنیکهای مختلف حل رشته به تفصیل توضیح داده شدهاند، همراه با مثالهای واقعی برای نشان دادن مزایا و معایب هر الگوریتم.
این کتاب برای دانشجویان فارغالتحصیل و محققین در زمینه مهندسی برق و کامپیوتر نیز مفید خواهد بود. به عنوان مهندسانی که در صنایع طراحی و طراحی اتوماسیون آی سی کار می کنند.
Dr. Wenjian Yu دانشیار گروه علوم و فناوری کامپیوتر در دانشگاه Tsinghua در چین است. دکتر زیرن وانگ یک مهندس تحقیق و توسعه در Cadence Design Systems در ایالات متحده است.
Resistance and capacitance (RC) extraction is an essential step in modeling the interconnection wires and substrate coupling effect in nanometer-technology integrated circuits (IC). The field-solver techniques for RC extraction guarantee the accuracy of modeling, and are becoming increasingly important in meeting the demand for accurate modeling and simulation of VLSI designs. Advanced Field-Solver Techniques for RC Extraction of Integrated Circuits presents a systematic introduction to, and treatment of, the key field-solver methods for RC extraction of VLSI interconnects and substrate coupling in mixed-signal ICs. Various field-solver techniques are explained in detail, with real-world examples to illustrate the advantages and disadvantages of each algorithm.
This book will benefit graduate students and researchers in the field of electrical and computer engineering as well as engineers working in the IC design and design automation industries.
Dr. Wenjian Yu is an Associate Professor at the Department of Computer Science and Technology at Tsinghua University in China; Dr. Xiren Wang is a R&D Engineer at Cadence Design Systems in the USA.
Front Matter....Pages i-xv
Introduction....Pages 1-6
Basic Field-Solver Techniques for RC Extraction....Pages 7-18
Fast Boundary Element Methods for Capacitance Extraction (I)....Pages 19-37
Fast Boundary Element Methods for Capacitance Extraction (II)....Pages 39-70
Resistance Extraction of Complex 3-D Interconnects....Pages 71-89
Substrate Resistance Extraction with Boundary Element Method....Pages 91-106
Extracting Frequency-Dependent Substrate Parasitics....Pages 107-119
Process Variation-Aware Capacitance Extraction....Pages 121-152
Statistical Capacitance Extraction Based on Continuous-Surface Geometric Model....Pages 153-178
Fast Floating Random Walk Method for Capacitance Extraction....Pages 179-208
FRW-Based Solver for Chip-Scale Large Structures....Pages 209-231
Back Matter....Pages 233-246