دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: سری: ISBN (شابک) : 9781574981834, 9781118407202 ناشر: سال نشر: 2006 تعداد صفحات: 84 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Advanced Dielectric, Piezoelectric and Ferroelectric Thin Films, Volume 162 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب لایه های نازک دی الکتریک، پیزوالکتریک و فروالکتریک پیشرفته، جلد 162 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پیشرفت در سنتز و خصوصیات لایه های نازک دی الکتریک، پیزوالکتریک
و فروالکتریک در این جلد گنجانده شده است. لایه های نازک دی
الکتریک، پیزوالکتریک و فروالکتریک تأثیر فوق العاده ای بر انواع
سیستم های تجاری و نظامی از جمله دستگاه های مایکروویو قابل
تنظیم، حافظه ها، دستگاه های MEMS، محرک ها و حسگرها دارند.
کارهای اخیر بر روی خصوصیات پیزوالکتریک، دیالکتریکهای تبدیل
فاز دیالکتریک AFE به FE، لایههای نازک رسوبشده در محلول و
بخار، و ادغام مواد از جمله موضوعاتی هستند که گنجانده شدهاند.
رویکردهای جدید به نانوساختار، توصیف خواص مواد و پاسخهای فیزیکی
در مقیاس نانو نیز گنجانده شده است. محتوا:
Advances in synthesis and characterization of dielectric,
piezoelectric and ferroelectric thin films are included in this
volume. Dielectric, piezoelectric and ferroelectric thin films
have a tremendous impact on a variety of commercial and
military systems including tunable microwave devices, memories,
MEMS devices, actuators and sensors. Recent work on
piezoelectric characterization, AFE to FE dielectric phase
transformation dielectrics, solution and vapor deposited thin
films, and materials integration are among the topics included.
Novel approaches to nanostructuring, characterization of
material properties and physical responses at the nanoscale
also is included.Content: