دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 2 نویسندگان: Earl J. Kirkland (auth.) سری: ISBN (شابک) : 1441965327, 9781441965332 ناشر: Springer US سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 300 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 5 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب محاسبات پیشرفته در میکروسکوپ الکترونی: خصوصیات و ارزیابی مواد، مهندسی برق
در صورت تبدیل فایل کتاب Advanced Computing in Electron Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب محاسبات پیشرفته در میکروسکوپ الکترونی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
محاسبات پیشرفته در میکروسکوپ الکترونی، ویرایش دوم، اطلاعات متنوعی را در مورد شبیهسازی تصویر گرد هم میآورد. این کتاب یک منبع ارزشمند، اطلاعاتی در مورد روش های مختلف برای محاسبه عددی تصاویر میکروسکوپ الکترونی عبوری معمولی و روبشی با وضوح بالا ارائه می دهد. این متن به عنوان یک ابزار عالی برای دانشجویان در سطح پیشرفته کارشناسی یا کارشناسی ارشد و همچنین محققان با تجربه در این زمینه عمل می کند.
این ویرایش دوم پیشرفته شامل موارد زیر است:
-توضیحات پیشرفت های جدید در این زمینه
- مراجع به روز شده
-مواد اضافی در مورد انحراف ابزار تصحیح شده و میکروسکوپ الکترونی کانفوکال
-نمونه ها و مقاطع گسترش یافته و بهبود یافته برای ارائه وضوح قوی تر
Advanced Computing in Electron Microscopy, 2nd Edition, brings together diverse information on image simulation. An invaluable resource, this book provides information on various methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. This text will serve as a great tool for students at the advanced undergraduate or graduate level, as well as experienced researchers in the field.
This enhanced second edition includes:
-descriptions of new developments in the field
-updated references
-additional material on aberration corrected instruments and confocal electron microscopy
-expanded and improved examples and sections to provide stronger clarity
Front Matter....Pages i-x
Introduction....Pages 1-4
The Transmission Electron Microscope....Pages 5-27
Linear Image Approximations....Pages 29-60
Sampling and the Fast Fourier Transform....Pages 61-76
Calculation of Images of Thin Specimens....Pages 77-113
Theory of Calculation of Images of Thick Specimens....Pages 115-161
Multislice Applications and Examples....Pages 163-197
The Programs....Pages 199-231
Plotting Transfer Functions....Pages 233-240
The Fourier Projection Theorem....Pages 241-242
Atomic Potentials and Scattering Factors....Pages 243-260
Bilinear Interpolation....Pages 261-263
3D Perspective View....Pages 265-269
Back Matter....Pages 287-289