ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Aberration-corrected Analytical Electron Microscopy

دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی تحلیلی تصحیح شده با انحراف

Aberration-corrected Analytical Electron Microscopy

مشخصات کتاب

Aberration-corrected Analytical Electron Microscopy

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: RMS - Royal Microscopical Society 
ISBN (شابک) : 0470518510, 9780470518519 
ناشر: Wiley 
سال نشر: 2011 
تعداد صفحات: 297 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 4 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 34,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 16


در صورت تبدیل فایل کتاب Aberration-corrected Analytical Electron Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی تحلیلی تصحیح شده با انحراف نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ الکترونی تحلیلی تصحیح شده با انحراف

این کتاب به تئوری، پس‌زمینه و استفاده عملی از میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری با اصلاح‌کننده‌های عدسی می‌پردازد که می‌توانند اثرات انحراف کروی را اصلاح کنند. این کتاب همچنین مقایسه ای با تصحیح انحراف در TEM و کاربردهای STEM تصحیح شده با انحراف تحلیلی در علم مواد و زیست شناسی را پوشش می دهد. این کتاب برای میکروسکوپیست‌هایی که در میکروآنالیز مواد و مقیاس نانو درگیر هستند، به‌ویژه کسانی که از میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی استفاده می‌کنند، و تکنیک‌های تحلیلی مرتبط مانند طیف‌سنجی پرتو ایکس پراش الکترونی (EDXS) و طیف‌سنجی اتلاف انرژی الکترون (EELS) ضروری است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology. This book is essential for microscopists involved in nanoscale and materials microanalysis especially those using scanning transmission electron microscopy, and related analytical techniques such as electron diffraction x-ray spectrometry (EDXS) and electron energy loss spectroscopy (EELS).





نظرات کاربران