دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: First edition
نویسندگان: Luo. Zhiping
سری: Materials characterization and analysis collection
ISBN (شابک) : 1606509179, 1606509187
ناشر: Momentum Press
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 179
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 6 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب A practical guide to transmission electron microscopy. Volume II, : Advanced microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب راهنمای عملی میکروسکوپ الکترونی عبوری جلد دوم، : میکروسکوپ پیشرفته نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) ابزار بسیار قدرتمندی برای
شناسایی انواع مختلف مواد است. با استفاده از یک میکروسکوپ نوری،
وضوح تصویر در چند صد نانومتر و برای یک میکروسکوپ الکترونی
روبشی، SEM، در چندین نانومتر است. وضوح تصویر TEM، با این حال،
به طور معمول می تواند به چندین آنگستروم در یک ابزار مودم برسد.
علاوه بر این، TEM همچنین میتواند اطلاعات ساختاری ماده
ارائه دهد، زیرا
الکترونها از طریق نمونههای نازک نفوذ میکنند، و اطلاعات ترکیب
شیمیایی به دلیل برهمکنشهای قوی الکترون-نمونه اتم . امروزه TEM
به طور گسترده در زمینه های مختلف در علوم فیزیکی (شیمی، مهندسی،
علوم زمین، علم مواد و فیزیک) و علوم زیستی (کشاورزی، زیست شناسی
و پزشکی) استفاده می شود و نقش کلیدی در تحقیق یا توسعه برای
طراحی مواد ایفا می کند. سنتز، پردازش یا عملکرد. این کتاب
راهنمای عملی مختصری را برای کاربر TEM ارائه میکند، از سطح
مبتدی، شامل دانشآموختگان، فارغالتحصیلان، محققان و مهندسین، در
مورد چگونگی یادگیری کارآمد TEM در مدت زمان کوتاه. این در درجه
اول برای علوم و مهندسی مواد یا رشته های مرتبط نوشته شده است، در
حالی که برخی از برنامه های کاربردی در علوم زیستی نیز گنجانده
شده است. این بیشتر مناطق با استفاده از TEM را پوشش می دهد، از
جمله ابزار دقیق، آماده سازی نمونه، پراش، تصویربرداری، میکروسکوپ
تحلیلی، و برخی از تکنیک های میکروسکوپ پیشرفته تازه توسعه یافته.
در هر مبحث، ابتدا یک پیشینه نظری به طور خلاصه بیان میشود و سپس
دستورالعملهای گام به گام در عملیات آزمایشی یا محاسبات ارائه
میشود. برخی از نکات فنی برای به دست آوردن بهترین نتایج ارائه
شده است. روش های عملی برای به دست آوردن، تجزیه و تحلیل و تفسیر
داده های TEM ارائه شده است. این کتاب ممکن است به عنوان یک کتاب
درسی برای دوره یا کارگاه آموزشی TEM یا یک کتاب مرجع برای کاربر
TEM باشد تا مهارت های TEM خود را بهبود بخشد.
بیشتر بخوانید...< /span>
چکیده: میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) ابزار بسیار قدرتمندی برای
شناسایی انواع مختلف مواد است. با استفاده از یک میکروسکوپ نوری،
وضوح تصویر در چند صد نانومتر و برای یک میکروسکوپ الکترونی
روبشی، SEM، در چندین نانومتر است. وضوح تصویر TEM، با این حال،
به طور معمول می تواند به چندین آنگستروم در یک ابزار مودم برسد.
علاوه بر این، TEM همچنین میتواند اطلاعات ساختاری مواد را فراهم
کند، زیرا الکترونها از طریق نمونههای نازک نفوذ میکنند، و
اطلاعات ترکیب شیمیایی را به دلیل برهمکنشهای قوی الکترون-نمونه
اتم ارائه میکند. امروزه TEM به طور گسترده در زمینه های مختلف
در علوم فیزیکی (شیمی، مهندسی، علوم زمین، علم مواد و فیزیک) و
علوم زیستی (کشاورزی، زیست شناسی و پزشکی) استفاده می شود و نقش
کلیدی در تحقیق یا توسعه برای طراحی مواد ایفا می کند. سنتز،
پردازش یا عملکرد. این کتاب راهنمای عملی مختصری را برای کاربر
TEM ارائه میکند، از سطح مبتدی، شامل دانشآموختگان،
فارغالتحصیلان، محققان و مهندسین، در مورد چگونگی یادگیری کارآمد
TEM در مدت زمان کوتاه. این در درجه اول برای علوم و مهندسی مواد
یا رشته های مرتبط نوشته شده است، در حالی که برخی از برنامه های
کاربردی در علوم زیستی نیز گنجانده شده است. این بیشتر مناطق با
استفاده از TEM را پوشش می دهد، از جمله ابزار دقیق، آماده سازی
نمونه، پراش، تصویربرداری، میکروسکوپ تحلیلی، و برخی از تکنیک های
میکروسکوپ پیشرفته تازه توسعه یافته. در هر مبحث، ابتدا یک پیشینه
نظری به طور خلاصه بیان میشود و سپس دستورالعملهای گام به گام
در عملیات آزمایشی یا محاسبات ارائه میشود. برخی از نکات فنی
برای به دست آوردن بهترین نتایج ارائه شده است. روش های عملی برای
به دست آوردن، تجزیه و تحلیل و تفسیر داده های TEM ارائه شده است.
این کتاب ممکن است به عنوان یک کتاب درسی برای دوره یا کارگاه
آموزشی TEM یا یک کتاب مرجع برای کاربر TEM باشد تا مهارت های TEM
خود را بهبود بخشد.
Transmission electron microscope (TEM) is a very powerful tool
for characterizing various types of materials. Using a light
microscope, the imaging resolution is at several hundred
nanometers, and for a scanning electron microscope, SEM, at
several nanometers. The imaging resolution of the TEM, however,
can routinely reach several angstroms on a modem instrument. In
addition, the TEM can also provide material structural information, since
the electrons penetrate through the thin specimens, and
chemical compositional information due to the strong
electron-specimen atom interactions. Nowadays, TEM is widely
applied in diverse areas in both physical sciences (chemistry,
engineering, geosciences, materials science, and physics) and
life sciences (agriculture, biology, and medicine), playing a
key role in research or development for material design,
synthesis, processing, or performance. This book provides a
concise practical guide to the TEM user, starting from the
beginner level, including upper-division undergraduates,
graduates, researchers, and engineers, on how to learn TEM
efficiently in a short period of time. It is written primarily
for materials science and engineering or related disciplines,
while some applications in life sciences are also included. It
covers most of the areas using TEM, including the
instrumentation, sample preparation, diffraction, imaging,
analytical microscopy, and some newly developed advanced
microscopy techniques. In each topic, a theoretical background
is firstly briefly outlined, followed with step-by-step
instructions in experimental operation or computation. Some
technical tips are given in order to obtain the best results.
The practical procedures to acquire, analyze, and interpret the
TEM data are therefore provided. This book may serve as a
textbook for a TEM course or workshop, or a reference book for
the TEM user to improve their TEM skills. Read
more...
Abstract: Transmission electron microscope (TEM) is a very
powerful tool for characterizing various types of materials.
Using a light microscope, the imaging resolution is at several
hundred nanometers, and for a scanning electron microscope,
SEM, at several nanometers. The imaging resolution of the TEM,
however, can routinely reach several angstroms on a modem
instrument. In addition, the TEM can also provide material
structural information, since the electrons penetrate through
the thin specimens, and chemical compositional information due
to the strong electron-specimen atom interactions. Nowadays,
TEM is widely applied in diverse areas in both physical
sciences (chemistry, engineering, geosciences, materials
science, and physics) and life sciences (agriculture, biology,
and medicine), playing a key role in research or development
for material design, synthesis, processing, or performance.
This book provides a concise practical guide to the TEM user,
starting from the beginner level, including upper-division
undergraduates, graduates, researchers, and engineers, on how
to learn TEM efficiently in a short period of time. It is
written primarily for materials science and engineering or
related disciplines, while some applications in life sciences
are also included. It covers most of the areas using TEM,
including the instrumentation, sample preparation, diffraction,
imaging, analytical microscopy, and some newly developed
advanced microscopy techniques. In each topic, a theoretical
background is firstly briefly outlined, followed with
step-by-step instructions in experimental operation or
computation. Some technical tips are given in order to obtain
the best results. The practical procedures to acquire, analyze,
and interpret the TEM data are therefore provided. This book
may serve as a textbook for a TEM course or workshop, or a
reference book for the TEM user to improve their TEM skills
Content: 6. Electron diffraction II --
6.1 Kikuchi diffraction --
6.1.1 Formation of Kikuchi lines --
6.1.2 Kikuchi diffraction and crystal tilt --
6.2 Convergent-beam electron diffraction --
6.2.1 Formation of convergent-beam diffraction --
6.2.2 High-order Laue zone --
6.2.3 Experimental procedures --
6.3 Nano-beam electron diffraction --
6.3.1 Formation of nano-beam electron diffraction --
6.3.2 Experimental procedures --
References --
7. Imaging II --
7.1 STEM imaging --
7.1.1 Formation of STEM images and optics --
7.1.2 STEM experimental procedures --
7.1.3 STEM applications --
7.2 High-resolution transmission electron microscopy --
7.2.1 Principles of HRTEM --
7.2.2 Experimental operations --
7.2.3 Image interpretation and simulation --
7.2.4 Image processing --
References --
8. Elemental analyses --
8.1 X-ray energy-dispersive spectroscopy --
8.1.1 Formation of characteristic x-rays --
8.1.2 EDS detector --
8.1.3 EDS artifacts --
8.1.4 Effects of specimen thickness, tilt, and space location --
8.1.5 Experimental procedures --
8.1.6 EDS applications --
8.2 Electron energy-loss spectroscopy --
8.2.1 Formation of EELS --
8.2.2 EELS qualitative and quantitative analyses --
8.2.3 Energy-filtered TEM --
8.2.4 EFTEM experimentation and applications --
References --
9. Specific applications --
9.1 Quantitative microscopy --
9.1.1 Quantification of size homogeneity --
9.1.2 Quantification of directional homogeneity --
9.1.3 Dispersion quantification --
9.1.4 Electron diffraction pattern processing and refinement --
9.2 In situ microscopy --
9.2.1 In situ heating --
9.2.2 In situ cooling --
9.2.3 In situ irradiation --
9.3 Cryo-EM --
9.4 Low-dose imaging --
9.5 Electron tomography --
9.5.1 Experimental procedures --
9.5.2 Object shapes --
9.5.3 Nanoparticle assemblies --
9.5.4 Nanoparticle superlattices --
References --
Illustration credits --
Index.