ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب A practical guide to transmission electron microscopy. Volume II, : Advanced microscopy

دانلود کتاب راهنمای عملی میکروسکوپ الکترونی عبوری جلد دوم، : میکروسکوپ پیشرفته

A practical guide to transmission electron microscopy. Volume II, : Advanced microscopy

مشخصات کتاب

A practical guide to transmission electron microscopy. Volume II, : Advanced microscopy

ویرایش: First edition 
نویسندگان:   
سری: Materials characterization and analysis collection 
ISBN (شابک) : 1606509179, 1606509187 
ناشر: Momentum Press 
سال نشر: 2016 
تعداد صفحات: 179 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 36,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب A practical guide to transmission electron microscopy. Volume II, : Advanced microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب راهنمای عملی میکروسکوپ الکترونی عبوری جلد دوم، : میکروسکوپ پیشرفته نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب راهنمای عملی میکروسکوپ الکترونی عبوری جلد دوم، : میکروسکوپ پیشرفته

میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) ابزار بسیار قدرتمندی برای شناسایی انواع مختلف مواد است. با استفاده از یک میکروسکوپ نوری، وضوح تصویر در چند صد نانومتر و برای یک میکروسکوپ الکترونی روبشی، SEM، در چندین نانومتر است. وضوح تصویر TEM، با این حال، به طور معمول می تواند به چندین آنگستروم در یک ابزار مودم برسد. علاوه بر این، TEM همچنین می‌تواند اطلاعات ساختاری ماده ارائه دهد، زیرا الکترون‌ها از طریق نمونه‌های نازک نفوذ می‌کنند، و اطلاعات ترکیب شیمیایی به دلیل برهمکنش‌های قوی الکترون-نمونه اتم . امروزه TEM به طور گسترده در زمینه های مختلف در علوم فیزیکی (شیمی، مهندسی، علوم زمین، علم مواد و فیزیک) و علوم زیستی (کشاورزی، زیست شناسی و پزشکی) استفاده می شود و نقش کلیدی در تحقیق یا توسعه برای طراحی مواد ایفا می کند. سنتز، پردازش یا عملکرد. این کتاب راهنمای عملی مختصری را برای کاربر TEM ارائه می‌کند، از سطح مبتدی، شامل دانش‌آموختگان، فارغ‌التحصیلان، محققان و مهندسین، در مورد چگونگی یادگیری کارآمد TEM در مدت زمان کوتاه. این در درجه اول برای علوم و مهندسی مواد یا رشته های مرتبط نوشته شده است، در حالی که برخی از برنامه های کاربردی در علوم زیستی نیز گنجانده شده است. این بیشتر مناطق با استفاده از TEM را پوشش می دهد، از جمله ابزار دقیق، آماده سازی نمونه، پراش، تصویربرداری، میکروسکوپ تحلیلی، و برخی از تکنیک های میکروسکوپ پیشرفته تازه توسعه یافته. در هر مبحث، ابتدا یک پیشینه نظری به طور خلاصه بیان می‌شود و سپس دستورالعمل‌های گام به گام در عملیات آزمایشی یا محاسبات ارائه می‌شود. برخی از نکات فنی برای به دست آوردن بهترین نتایج ارائه شده است. روش های عملی برای به دست آوردن، تجزیه و تحلیل و تفسیر داده های TEM ارائه شده است. این کتاب ممکن است به عنوان یک کتاب درسی برای دوره یا کارگاه آموزشی TEM یا یک کتاب مرجع برای کاربر TEM باشد تا مهارت های TEM خود را بهبود بخشد. بیشتر بخوانید...< /span>
چکیده: میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) ابزار بسیار قدرتمندی برای شناسایی انواع مختلف مواد است. با استفاده از یک میکروسکوپ نوری، وضوح تصویر در چند صد نانومتر و برای یک میکروسکوپ الکترونی روبشی، SEM، در چندین نانومتر است. وضوح تصویر TEM، با این حال، به طور معمول می تواند به چندین آنگستروم در یک ابزار مودم برسد. علاوه بر این، TEM همچنین می‌تواند اطلاعات ساختاری مواد را فراهم کند، زیرا الکترون‌ها از طریق نمونه‌های نازک نفوذ می‌کنند، و اطلاعات ترکیب شیمیایی را به دلیل برهمکنش‌های قوی الکترون-نمونه اتم ارائه می‌کند. امروزه TEM به طور گسترده در زمینه های مختلف در علوم فیزیکی (شیمی، مهندسی، علوم زمین، علم مواد و فیزیک) و علوم زیستی (کشاورزی، زیست شناسی و پزشکی) استفاده می شود و نقش کلیدی در تحقیق یا توسعه برای طراحی مواد ایفا می کند. سنتز، پردازش یا عملکرد. این کتاب راهنمای عملی مختصری را برای کاربر TEM ارائه می‌کند، از سطح مبتدی، شامل دانش‌آموختگان، فارغ‌التحصیلان، محققان و مهندسین، در مورد چگونگی یادگیری کارآمد TEM در مدت زمان کوتاه. این در درجه اول برای علوم و مهندسی مواد یا رشته های مرتبط نوشته شده است، در حالی که برخی از برنامه های کاربردی در علوم زیستی نیز گنجانده شده است. این بیشتر مناطق با استفاده از TEM را پوشش می دهد، از جمله ابزار دقیق، آماده سازی نمونه، پراش، تصویربرداری، میکروسکوپ تحلیلی، و برخی از تکنیک های میکروسکوپ پیشرفته تازه توسعه یافته. در هر مبحث، ابتدا یک پیشینه نظری به طور خلاصه بیان می‌شود و سپس دستورالعمل‌های گام به گام در عملیات آزمایشی یا محاسبات ارائه می‌شود. برخی از نکات فنی برای به دست آوردن بهترین نتایج ارائه شده است. روش های عملی برای به دست آوردن، تجزیه و تحلیل و تفسیر داده های TEM ارائه شده است. این کتاب ممکن است به عنوان یک کتاب درسی برای دوره یا کارگاه آموزشی TEM یا یک کتاب مرجع برای کاربر TEM باشد تا مهارت های TEM خود را بهبود بخشد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Transmission electron microscope (TEM) is a very powerful tool for characterizing various types of materials. Using a light microscope, the imaging resolution is at several hundred nanometers, and for a scanning electron microscope, SEM, at several nanometers. The imaging resolution of the TEM, however, can routinely reach several angstroms on a modem instrument. In addition, the TEM can also provide material structural information, since the electrons penetrate through the thin specimens, and chemical compositional information due to the strong electron-specimen atom interactions. Nowadays, TEM is widely applied in diverse areas in both physical sciences (chemistry, engineering, geosciences, materials science, and physics) and life sciences (agriculture, biology, and medicine), playing a key role in research or development for material design, synthesis, processing, or performance. This book provides a concise practical guide to the TEM user, starting from the beginner level, including upper-division undergraduates, graduates, researchers, and engineers, on how to learn TEM efficiently in a short period of time. It is written primarily for materials science and engineering or related disciplines, while some applications in life sciences are also included. It covers most of the areas using TEM, including the instrumentation, sample preparation, diffraction, imaging, analytical microscopy, and some newly developed advanced microscopy techniques. In each topic, a theoretical background is firstly briefly outlined, followed with step-by-step instructions in experimental operation or computation. Some technical tips are given in order to obtain the best results. The practical procedures to acquire, analyze, and interpret the TEM data are therefore provided. This book may serve as a textbook for a TEM course or workshop, or a reference book for the TEM user to improve their TEM skills. Read more...
Abstract: Transmission electron microscope (TEM) is a very powerful tool for characterizing various types of materials. Using a light microscope, the imaging resolution is at several hundred nanometers, and for a scanning electron microscope, SEM, at several nanometers. The imaging resolution of the TEM, however, can routinely reach several angstroms on a modem instrument. In addition, the TEM can also provide material structural information, since the electrons penetrate through the thin specimens, and chemical compositional information due to the strong electron-specimen atom interactions. Nowadays, TEM is widely applied in diverse areas in both physical sciences (chemistry, engineering, geosciences, materials science, and physics) and life sciences (agriculture, biology, and medicine), playing a key role in research or development for material design, synthesis, processing, or performance. This book provides a concise practical guide to the TEM user, starting from the beginner level, including upper-division undergraduates, graduates, researchers, and engineers, on how to learn TEM efficiently in a short period of time. It is written primarily for materials science and engineering or related disciplines, while some applications in life sciences are also included. It covers most of the areas using TEM, including the instrumentation, sample preparation, diffraction, imaging, analytical microscopy, and some newly developed advanced microscopy techniques. In each topic, a theoretical background is firstly briefly outlined, followed with step-by-step instructions in experimental operation or computation. Some technical tips are given in order to obtain the best results. The practical procedures to acquire, analyze, and interpret the TEM data are therefore provided. This book may serve as a textbook for a TEM course or workshop, or a reference book for the TEM user to improve their TEM skills



فهرست مطالب

Content: 6. Electron diffraction II --
6.1 Kikuchi diffraction --
6.1.1 Formation of Kikuchi lines --
6.1.2 Kikuchi diffraction and crystal tilt --
6.2 Convergent-beam electron diffraction --
6.2.1 Formation of convergent-beam diffraction --
6.2.2 High-order Laue zone --
6.2.3 Experimental procedures --
6.3 Nano-beam electron diffraction --
6.3.1 Formation of nano-beam electron diffraction --
6.3.2 Experimental procedures --
References --
7. Imaging II --
7.1 STEM imaging --
7.1.1 Formation of STEM images and optics --
7.1.2 STEM experimental procedures --
7.1.3 STEM applications --
7.2 High-resolution transmission electron microscopy --
7.2.1 Principles of HRTEM --
7.2.2 Experimental operations --
7.2.3 Image interpretation and simulation --
7.2.4 Image processing --
References --
8. Elemental analyses --
8.1 X-ray energy-dispersive spectroscopy --
8.1.1 Formation of characteristic x-rays --
8.1.2 EDS detector --
8.1.3 EDS artifacts --
8.1.4 Effects of specimen thickness, tilt, and space location --
8.1.5 Experimental procedures --
8.1.6 EDS applications --
8.2 Electron energy-loss spectroscopy --
8.2.1 Formation of EELS --
8.2.2 EELS qualitative and quantitative analyses --
8.2.3 Energy-filtered TEM --
8.2.4 EFTEM experimentation and applications --
References --
9. Specific applications --
9.1 Quantitative microscopy --
9.1.1 Quantification of size homogeneity --
9.1.2 Quantification of directional homogeneity --
9.1.3 Dispersion quantification --
9.1.4 Electron diffraction pattern processing and refinement --
9.2 In situ microscopy --
9.2.1 In situ heating --
9.2.2 In situ cooling --
9.2.3 In situ irradiation --
9.3 Cryo-EM --
9.4 Low-dose imaging --
9.5 Electron tomography --
9.5.1 Experimental procedures --
9.5.2 Object shapes --
9.5.3 Nanoparticle assemblies --
9.5.4 Nanoparticle superlattices --
References --
Illustration credits --
Index.




نظرات کاربران