دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Charles E. Stroud (auth.)
سری: Frontiers in Electronic Testing 19
ISBN (شابک) : 1402070500, 0306475049
ناشر: Springer US
سال نشر: 2002
تعداد صفحات: 340
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 14 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب راهنمای طراح برای خودآزمایی داخلی: مدارها و سیستم ها، مهندسی الکترونیک و کامپیوتر، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی
در صورت تبدیل فایل کتاب A Designer’s Guide to Built-In Self-Test به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب راهنمای طراح برای خودآزمایی داخلی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
یک پیشرفت تکنولوژیکی اخیر، هنر طراحی مدارها برای آزمایش خود است که به آن خودآزمایی داخلی (BIST) گفته می شود. این ایده برای اولین بار در حدود سال 1980 مطرح شد و به یکی از مهم ترین تکنیک های آزمایش در زمان کنونی و همچنین برای آینده تبدیل شده است. این کتاب از دیدگاه یک طراح نوشته شده است و رویکردهای اصلی BIST را که از سال 1980 ارائه و اجرا شده اند، همراه با مزایا و محدودیت های آنها شرح می دهد. رویکردهای BIST شامل مشاهدهگر بلوک منطقی داخلی، تکنیکهای BIST شبه جامع، BIST دایرهای، BIST مبتنی بر اسکن، BIST برای ساختارهای معمولی، BIST برای FPGA و CPLD، BIST سیگنال مختلط، و ادغام BIST با خطای همزمان است. تکنیک های تشخیص برای آزمایش آنلاین توجه ویژه ای به استفاده در سطح سیستم از BIST به منظور به حداکثر رساندن مزایای BIST از طریق کاهش زمان و هزینه تست و همچنین وضوح تشخیصی بالا می شود. نویسنده 15 سال به عنوان طراح در آزمایشگاه های بل گذراند و در آنجا بیش از 20 دستگاه VLSI تولیدی و 3 برد مدار تولیدی را طراحی کرد. 16 دستگاه از VLSI حاوی BIST از انواع مختلف برای ساختارهای منظم و منطق متوالی عمومی بودند، از جمله اولین BIST برای حافظههای دسترسی تصادفی (RAM)، اولین مدار مجتمع کاملاً خودآزمایی، و اولین BIST برای سیستمهای سیگنال مختلط در Bell. آزمایشگاه ها او 10 سال گذشته را در دانشگاه گذرانده است، جایی که تحقیقات و توسعه او همچنان بر روی BIST متمرکز است، از جمله اولین BIST برای FPGA ها و CPLD ها همراه با ادامه کار در حوزه BIST برای منطق متوالی عمومی و سیستم های سیگنال مختلط. او دارای 10 پتنت ایالات متحده (با 5 مورد دیگر) برای انواع مختلف رویکردهای BIST است. بنابراین، نویسنده ترکیبی منحصر به فرد از دانش و تجربه را به این راهنمای عملی برای طراحان، مهندسان آزمایش، مهندسان محصول، متخصصان تشخیص سیستم و مدیران به ارمغان می آورد.
A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test (BIST). This idea was first proposed around 1980 and has grown to become one of the most important testing techniques at the current time, as well as for the future. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented since 1980, along with their advantages and limitations. The BIST approaches include the Built-In Logic Block Observer, pseudo-exhaustive BIST techniques, Circular BIST, scan-based BIST, BIST for regular structures, BIST for FPGAs and CPLDs, mixed-signal BIST, and the integration of BIST with concurrent fault detection techniques for on-line testing. Particular attention is paid to system-level use of BIST in order to maximize the benefits of BIST through reduced testing time and cost as well as high diagnostic resolution. The author spent 15 years as a designer at Bell Labs where he designed over 20 production VLSI devices and 3 production circuit boards. Sixteen of the VLSI devices contained BIST of various types for regular structures and general sequential logic, including the first BIST for Random Access Memories (RAMs), the first completely self-testing integrated circuit, and the first BIST for mixed-signal systems at Bell Labs. He has spent the past 10 years in academia where his research and development continues to focus on BIST, including the first BIST for FPGAs and CPLDs along with continued work in the area of BIST for general sequential logic and mixed-signal systems. He holds 10 US patents (with 5 more pending) for various types of BIST approaches. Therefore, the author brings a unique blend of knowledge and experience to this practical guide for designers, test engineers, product engineers, system diagnosticians, and managers.
An Overview of BIST....Pages 1-14
Fault Models, Detection, and Simulation....Pages 15-42
Design for Testability....Pages 43-60
Test Pattern Generation....Pages 61-80
Output Response Analysis....Pages 81-100
Manufacturing and System-Level Use of BIST....Pages 101-120
Built-In Logic Block Observer....Pages 121-136
Pseudo-Exhaustive BIST....Pages 137-148
Circular BIST....Pages 149-168
Scan-Based BIST....Pages 169-190
Non-Intrusive BIST....Pages 191-206
BIST for Regular Structures....Pages 207-220
BIST for FPGAs and CPLDs....Pages 221-250
Applying Digital BIST to Mixed-Signal Systems....Pages 251-266
Merging BIST and Concurrent Fault Detection....Pages 267-286