Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

این کتاب یک مرور کلی از مهاجرت الکتریکی و تأثیرات آن بر قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی ارائه می دهد. این فرآیند فیزیکی مهاجرت الکتریکی را معرفی می کند که به خواننده درک و دانش لازم برای اتخاذ اقدامات مقابله ای مناسب را می دهد. مجموعه ای جامع از گزینه ها برای اصلاح روش طراحی IC حاضر برای جلوگیری از مهاجرت الکتریکی ارائه شده است. در نهایت، نویسندگان نشان می‌دهند که چگونه می‌توان از اثرات خاص در فناوری‌های حال و آینده برای کاهش تأثیر منفی مهاجرت الکتریکی بر قابلیت اطمینان مدار استفاده کرد.

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.