Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

این کتاب برای پر کردن شکاف موجود در ادبیات تست VLSI، مروری جامع از پیشرفته‌ترین روش‌های کاوشگر بدون تماس نوری را در اختیار خوانندگان قرار می‌دهد. نویسنده مشکلات ذاتی با رویکردهای طراحی کاوشگر مکانیکی و آزمایش‌پذیری برای آزمایش خطای عملکردی و داخلی را برجسته می‌کند و نشان می‌دهد که چگونه آزمایش بدون تماس ممکن است بسیاری از چالش‌های مرتبط با آزمایش ویفر مکانیکی معمولی را حل کند. تکنیک‌هایی که در این کتاب توضیح داده شده‌اند به تقاضاهای فزاینده برای دسترسی داخلی به حالت منطقی یک گره در یک تراشه تحت آزمایش می‌پردازند.

This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.